便攜性電子元器件密度磁通計(jì)測量特斯拉計(jì)
產(chǎn)品名稱: 便攜性電子元器件密度磁通計(jì)測量特斯拉計(jì)
產(chǎn)品型號: HGM3-4000
產(chǎn)品特點(diǎn): 便攜性電子元器件密度磁通計(jì)測量特斯拉計(jì)HGM3-4000 是一款面向科研與精密工業(yè)場景的高穩(wěn)定性磁通密度(特斯拉)計(jì),核心特點(diǎn)與典型應(yīng)用如下。1. 核心指標(biāo)測量范圍:20 mT、200 mT、2 T、20 T 四檔量程,最小分辨率 0.01 mT測量精度:±0.5 % 滿量程頻率范圍:DC~1 kHz(連續(xù)),可滿足直流與高頻交流磁場測試輸出接口:±5 V/滿量程模擬輸出,可直接接入
便攜性電子元器件密度磁通計(jì)測量特斯拉計(jì) 的詳細(xì)介紹
便攜性電子元器件密度磁通計(jì)測量特斯拉計(jì)
便攜性電子元器件密度磁通計(jì)測量特斯拉計(jì)
HGM3-4000 是一款面向科研與精密工業(yè)場景的高穩(wěn)定性磁通密度(特斯拉)計(jì),核心特點(diǎn)與典型應(yīng)用如下。
1. 核心指標(biāo)
測量范圍:20 mT、200 mT、2 T、20 T 四檔量程,最小分辨率 0.01 mT
測量精度:±0.5 % 滿量程
頻率范圍:DC~1 kHz(連續(xù)),可滿足直流與高頻交流磁場測試
輸出接口:±5 V/滿量程模擬輸出,可直接接入 PC 做波形記錄與分布繪圖
噪聲控制:新電路結(jié)構(gòu)專門優(yōu)化紋波,適合對低噪聲、高穩(wěn)定性要求高的場合
2. 主要優(yōu)勢
超低漂移:采用恒流驅(qū)動霍爾元件+同步檢測技術(shù),零漂極小,在 mT 級甚至更低磁場仍可長時(shí)間保持讀數(shù)穩(wěn)定
PC 聯(lián)機(jī)分析:通過 ±5 V 模擬口或外接采集卡,可把磁場分布可視化,用于磁路設(shè)計(jì)驗(yàn)證或均勻性評估
寬頻響應(yīng):DC-1 kHz 的帶寬覆蓋電機(jī)、電磁閥、無線充電線圈等大部分工業(yè)頻率,可替代昂貴鎖相方案做動態(tài)磁場監(jiān)測
結(jié)構(gòu)兼容:與 magnix 全線軸向/扁平/微傳感器探頭通用,可測狹窄間隙或芯片級微磁場;若需要三維分布,可選配 3 通道型號 HGM-8900
HGM3-4000 是一款面向科研與精密工業(yè)場景的高穩(wěn)定性磁通密度(特斯拉)計(jì),核心特點(diǎn)與典型應(yīng)用如下。
1. 核心指標(biāo)
測量范圍:20 mT、200 mT、2 T、20 T 四檔量程,最小分辨率 0.01 mT
測量精度:±0.5 % 滿量程
頻率范圍:DC~1 kHz(連續(xù)),可滿足直流與高頻交流磁場測試
輸出接口:±5 V/滿量程模擬輸出,可直接接入 PC 做波形記錄與分布繪圖
噪聲控制:新電路結(jié)構(gòu)專門優(yōu)化紋波,適合對低噪聲、高穩(wěn)定性要求高的場合
2. 主要優(yōu)勢
超低漂移:采用恒流驅(qū)動霍爾元件+同步檢測技術(shù),零漂極小,在 mT 級甚至更低磁場仍可長時(shí)間保持讀數(shù)穩(wěn)定
PC 聯(lián)機(jī)分析:通過 ±5 V 模擬口或外接采集卡,可把磁場分布可視化,用于磁路設(shè)計(jì)驗(yàn)證或均勻性評估
寬頻響應(yīng):DC-1 kHz 的帶寬覆蓋電機(jī)、電磁閥、無線充電線圈等大部分工業(yè)頻率,可替代昂貴鎖相方案做動態(tài)磁場監(jiān)測
結(jié)構(gòu)兼容:與 magnix 全線軸向/扁平/微傳感器探頭通用,可測狹窄間隙或芯片級微磁場;若需要三維分布,可選配 3 通道型號 HGM-8900