非接觸半導體裝置用離子體反應溫度測量計
非接觸半導體裝置用離子體反應溫度測量計
| 項目 | 參數 |
|---|---|
| 原理 | 非接觸等離子體溫度(Photrix 原理) |
| 溫度范圍 | 450 – 2000 °C(全范圍) |
| 分辨率 | 0.01 °C(0.01 °C 分辨率) |
| 精度 | ±0.5 %(450-2000 °C) |
| 響應時間 | 5 ms(非接觸) |
| 真空度 | ≤ 1×10?? Pa(真空版) |
| 大氣版 | 可選(內置窗) |
| 真空接口 | NW16(可轉 NW25/NW40) |
| 電源 | DC 24 V 2 A(含 100-240 V 適配器) |
| 尺寸/重量 | 200×150×45 mm,1.9 kg |
| 壽命 | 5 年(傳感器) |
半導體等離子體刻蝕┌─ 等離子體腔體 ─┐│ │溫度← Photrix ← 真空饋通 NW16│ │└─ PLC/DCS ──────┘| 項目 | 參數 |
|---|---|
| 原理 | 非接觸等離子體溫度(Photrix 原理) |
| 溫度范圍 | 450 – 2000 °C(全范圍) |
| 分辨率 | 0.01 °C(0.01 °C 分辨率) |
| 精度 | ±0.5 %(450-2000 °C) |
| 響應時間 | 5 ms(非接觸) |
| 真空度 | ≤ 1×10?? Pa(真空版) |
| 大氣版 | 可選(內置窗) |
| 真空接口 | NW16(可轉 NW25/NW40) |
| 電源 | DC 24 V 2 A(含 100-240 V 適配器) |
| 尺寸/重量 | 200×150×45 mm,1.9 kg |
| 壽命 | 5 年(傳感器) |
半導體等離子體刻蝕┌─ 等離子體腔體 ─┐│ │溫度← Photrix ← 真空饋通 NW16│ │└─ PLC/DCS ──────┘深圳市秋山貿易有限公司版權所有 地址:深圳市龍崗區龍崗街道新生社區新旺路和健云谷2棟B座1002